Firma

Wir bieten Ihnen an: Quantitative GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer leitenden Schichten Quantitative GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer nichtleitenden Schichten Bestimmung der chemischen Zusammensetzung Ihres Grundmateriales (Vollanalyse,BULK) Weitere Verfahren in der Oberflächen-, Grenzflächen- und Dünnschichtanalytik Referenzproben für die optische Emissionsspektrometrie (OES) Härtevergleichsplatten bzw. Härteprüfplatten Vorstellung 1995: Gründung der TAZ GmbH von Thomas Asam 1995: Umbau eines GDS1000 auf Windows Software und hochauflösende Elektronik 1998: Inbetriebnahme eines GDA750 2000: HF-Anregungsquelle für nichtleitende Schichten 2003: Tiefenprofilanalysen runder und gekrümmter Proben sind möglich 2003: Komplette Metallografie ist vorhanden mit Mikroskopen, Härteprüfern, Schleif- und Poliermaschine u. a. 2005: Inbetriebnahme eines Rasterkraftmikroskops AFM 2006: Akkreditierung nach DIN EN ISO 17025

Firmennews

Es sind noch keine Firmennews vorhanden!

Suchbegriffe

Es sind noch keine Tags vorhanden.

Produkte

Es sind noch keine Produkte vorhanden.

Referenzen

Es sind noch keine Referenzen vorhanden.

Gebrauchtmaschinen

Es sind noch keine Gebrauchtmaschinen vorhanden.

Dokumente

Es sind noch keine Dokumente vorhanden.

Stellenangebote

Es sind noch keine Stellenangebote vorhanden.

Videos

Es sind noch keine Videos vorhanden.

Veranstaltungen / Termine

Es sind noch keine Termine vorhanden.